IEC 60147-0C:1973
補足第3弾

規格番号
IEC 60147-0C:1973
制定年
1973
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
状態
最新版
IEC 60147-0C:1973
に置き換えられる
IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-0C:1973 発売履歴

  • 1966 IEC 60147-0:1966 半導体デバイスの基本的な定格と特性、測定方法の一般原則 第0部:一般原則と用語

IEC 60147-0C:1973 補足第3弾 は IEC 60747-2:1983 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 2: 整流ダイオード に変更されます。

IEC 60147-0C:1973 補足第3弾 は IEC 60747-1:1983 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第 1 部: 概要 に変更されます。

IEC 60147-0C:1973 補足第3弾 は IEC 60747-6:1983 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 1: サイリスタ に変更されます。




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