JEDEC JESD22-C101F-2013
マイクロエレクトロニクス部品の静電気放電耐性閾値の電界帯電デバイスモデル試験方法

規格番号
JEDEC JESD22-C101F-2013
制定年
2013
出版団体
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
マイクロエレクトロニクス部品の静電気放電耐性閾値の電界帯電デバイスモデル試験方法



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