ITU-T O.175-2012 XG-PONをベースとしたデジタルシステムジッタ測定装置第15研究班規格と仕様

範囲: テスト機器は主に、ジッタ測定機能とジッタ生成機能で構成されます。測定は、XG-PON システムの物理層で実行できます。特定の種類の測定には、ビット誤り率テストセットも必要になる場合があります。これは同じ機器の一部である場合もあれば、物理的に分離されている場合もあります。同期デジタル階層 (SDH) に基づくデジタルシステムでのジッターの生成と測定のためのテスト機器は、ITU-T Rec. で規定されています。 O.172。この勧告と併せて ITU-T Rec G.987.2 を読むことをお勧めします。

ITU-T O.175-2012 規範的参照

ITU-T G.703-2001 シリーズデジタルインターフェイスの物理的/電気的特性シリーズ G: 伝送システムとメディア、デジタルシステムおよびネットワーク化されたデジタル端末装置一般研究グループ 15. 訂正事項 1
ITU-T G.783-2006 SDH（Synchronous Digital Hierarchy）装置の機能ブロックの特徴（研究グループ15）
ITU-T G.987-2012 10 ギガビットパッシブ光ネットワーク (XG-PON) システム: 定義、略語および頭字語研究グループ 15
ITU-T G.987.1-2010 10 ギガビットパッシブ光ネットワーク (XG-PON): 一般要件 (研究グループ 15)
ITU-T G.987.2-2010 10Gbit パッシブ光ネットワーク (XG-PON): 物理メディア依存 (PMD) レイヤ仕様研究グループ 15
ITU-T G.987.3-2010 10 ギガビットパッシブ光ネットワーク (XG-PON): 伝送コンバージェンス (TC) レイヤ仕様研究グループ 15
ITU-T O.172-2005 Synchronous Digital Family (SDH) デジタルシステムに基づくジッタおよびオフセット測定装置
ITU-T O.3-1992 気候条件および関連する試験および測定機器 - 測定機器の仕様 (研究グループ 4) 7 ページ