JEDEC JESD22-B118-2011
半導体ウエハおよびチップ裏面の外観検査
ホーム
JEDEC JESD22-B118-2011
規格番号
JEDEC JESD22-B118-2011
制定年
2011
出版団体
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
© 著作権 2024