ITU-T L.8 SPANISH-1988
交流による腐食

規格番号

ITU-T L.8 SPANISH-1988

制定年

1988

出版団体

International Telecommunication Union (ITU)

範囲

実験室での実験や産業設備の検査の結果は、漂遊交流電流が腐食を引き起こす可能性があることを示しています。 しかし、重量損失による直流と交流の影響を比較するための鉛に関する他の実験では、交流による腐食の影響はそれに比べて非常にわずかであることが示されています。 直流交流による腐食あり 腐食は孔食の形で現れます。