IEC 61675-1/AMD1:2008
放射性核種イメージング装置 性能と試験条件 その1 陽電子放出断層撮影装置 改造1
- 規格番号
- IEC 61675-1/AMD1:2008
- 制定年
- 2008
- 出版団体
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- 状態
- 2013-09
- に置き換えられる
- IEC 61675-1:2013
- 最新版
- IEC 61675-1:2022 RLV
- 範囲
- この規格は、放射性核種イメージング装置 - 特性と試験条件 - パート 1: 陽電子放射断層撮影装置に関するものです。 修正第 1 条
IEC 61675-1/AMD1:2008 発売履歴
- 0000 IEC 61675-1:2022 RLV
- 2013 IEC 61675-1:2013 放射性核種イメージング装置 性能と試験条件 パート 1: 放射線断層像の位置決め
- 1970 IEC 61675-1:1998/AMD1:2008 修正 1 - 放射性核種イメージング装置 - 特性と試験条件 - 第 1 部：陽電子放出断層撮影装置
- 2008 IEC 61675-1:2008 放射性核種イメージング装置 特徴と試験条件 その1 陽電子放出断層撮影装置
- 1998 IEC 61675-1:1998 放射性核種イメージング装置の性能と試験条件 第1部：陽電子放射断層撮影法
IEC 61675-1/AMD1:2008 放射性核種イメージング装置 性能と試験条件 その1 陽電子放出断層撮影装置 改造1 は IEC 61675-1:2013 放射性核種イメージング装置 性能と試験条件 パート 1: 放射線断層像の位置決め に変更されます。
