JB/T 6237.6-2008
電気接点材料用銀粉の化学分析方法 第6回 フレーム原子吸光分析法によるマグネシウム含有量の定量 (英語版)

規格番号

JB/T 6237.6-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

Professional Standard - Machinery

最新版

JB/T 6237.6-2008

交換する

JB/T 6237.8-1992 JB/T 6237.7-1992

範囲

JB/T 6237 のこの部分では、電気接点材料用の銀粉末のマグネシウム含有量を測定する方法が規定されています。 このセクションは、電気接点材料用の銀粉末中のマグネシウム含有量の測定に適用されます。 測定範囲：0.0005%～0.005%。

JB/T 6237.6-2008 規範的参照

• GB/T 7728-1987 冶金製品の化学分析のためのフレーム原子吸光分析の一般規則

JB/T 6237.6-2008 発売履歴

• 2008 JB/T 6237.5-2008 電気接点材料用銀粉の化学分析法 第5部 フレーム原子吸光法によるナトリウム含有量の定量
• 1992 JB/T 6237.6-1992 電気接点用銀粉の化学分析方法 フレーム原子吸光分析法によるナトリウム含有量の定量

JB/T 6237.6-2008 電気接点材料用銀粉の化学分析方法 第6回 フレーム原子吸光分析法によるマグネシウム含有量の定量 は JB/T 6237.8-1992 電気接点用銀粉の化学分析法 フレーム原子吸光分析法によるマグネシウム含有量の定量 から変更されます。

JB/T 6237.6-2008 電気接点材料用銀粉の化学分析方法 第6回 フレーム原子吸光分析法によるマグネシウム含有量の定量 は JB/T 6237.7-1992 電気接点用銀粉の化学分析法 キシレンブルー II 分光光度法によるマグネシウム含有量の測定 から変更されます。