JEDEC JESD85-2001
FIT における故障率の計算方法

規格番号

JEDEC JESD85-2001

制定年

2001

出版団体

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

範囲

この文書で説明されている方法は、故障が一定の故障率 e.=. (故障の活性化エネルギーによって特徴付けられるアレニウスの動作) を示す故障モードおよびメカニズムに適用されます。 時間の経過に伴う故障の分布に関するデータが存在する場合、これらの活性化エネルギーは事前の知識または故障解析の特徴から推定できます。 デフォルトの活性化エネルギーが不明または決定できない場合は、活性化エネルギーをデフォルトとして使用できます。 初期推定値を取得するには、JEP 122「故障メカニズムの活性化エネルギー」を参照してください。