JEDEC JESD74A-2007
半導体デバイスの初期故障価格計算プログラム

規格番号

JEDEC JESD74A-2007

制定年

2007

出版団体

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

範囲

製品の初期故障率 (ELFR) 測定は、通常、製品の認定中、または継続的な製品信頼性監視活動の一環として実行されます。 これらのテストは、製品の最初の数か月間、現場での信頼性パフォーマンスを測定します。 したがって、実際の顧客の使用条件に応じて初期故障率を正確に予測する方法論を確立することが重要です。