JEDEC JESD57-1996
重イオン放射線に曝露された半導体デバイスのシングルイベント効果測定のテスト手順

規格番号

JEDEC JESD57-1996

制定年

1996

出版団体

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

範囲

このテスト方法は、集積回路の地球ベースのシングルイベント効果 (SEE) テストの要件と手順を定義します。