JEDEC EIA-318-B-1996
半導体信号ダイオードの逆回復時間測定

規格番号

JEDEC EIA-318-B-1996

制定年

1996

出版団体

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

範囲

この規格では、持続時間 300 ns 未満の信号ダイオード (IF 5500 mA DC) 逆回復時間の測定について説明しています。 ただし、より長い回復時間の測定にも使用できます。