IEEE Std C62.37-1996
シリコン制御ダイオードバッファ保護デバイスのテスト仕様
- 規格番号
- IEEE Std C62.37-1996
- 制定年
- 1996
- 出版団体
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- 状態
- に置き換えられる
- IEEE Std C62.37/COR-2009
- 最新版
- IEEE Std C62.37/COR-2009
- 範囲
- 電圧が 1000 V rms または 1200 V DC 以下のシステムに適用される、2 端子または 3 端子、4 層または 5 層のサイリスタ サージ保護デバイス (SPD) に適用されます。
IEEE Std C62.37-1996 発売履歴
- 2009 IEEE Std C62.37/COR-2009 半導体サイリスタダイオード衝撃保護装置の試験仕様書、正誤表
- 1996 IEEE Std C62.37-1996 シリコン制御ダイオードバッファ保護デバイスのテスト仕様
