20/30423207 DC
BS EN IEC 62951-9 半導体デバイス フレキシブルおよび伸縮性半導体デバイス パート 9 1 チューブ 1 抵抗器 (1T1R) 抵抗メモリ ユニットの性能試験方法
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規格番号
20/30423207 DC
制定年
2020
出版団体
British Standards Institution (BSI)
最新版
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20/30423207 DC 発売履歴
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