KS D ISO 2178-2002(2022)
磁性基板上の非磁性膜の膜厚測定 磁気法

規格番号

KS D ISO 2178-2002(2022)

制定年

2002

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

最新版

KS D ISO 2178-2002(2022)

KS D ISO 2178-2002(2022) 発売履歴

• 2022 KS D ISO 2178-2022 膜厚測定－磁性基板上の非磁性膜－磁気法
• 0000 KS D ISO 2178-2002(2017)
• 2002 KS D ISO 2178:2002 磁性基板上の非磁性被膜 被膜厚さの測定 磁気法