IEC 62526:2007(E) IEEE 1450.1-2005(E)
IEC 62526 Edition 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) 拡張

規格番号

IEC 62526:2007(E) IEEE 1450.1-2005(E)

制定年

2007

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

範囲

標準テスト インターフェイス言語 (STIL) は、デジタル テスト生成ツールとテスト機器間のインターフェイスを提供します。 テスト インターフェイス言語 (この規格に含まれる) の拡張は、(1) 設計環境での言語の使用を容易にする、(2) 再利用可能なパターンを含むサブデザインを含む大規模な設計での言語の使用を容易にする、と定義されています。