VLSI TEST-1998
VLSI テスト: デジタルおよびアナログ/デジタル混合テクノロジー

規格番号

VLSI TEST-1998

制定年

1998

出版団体

IET - Institution of Engineering and Technology

範囲

単一の IC チップ上に製造される回路の複雑さが増すにつれて、集積回路 (IC) をテストする重要性が高まっています。 新しい IC を設計してからテストについて考えることはもはや不可能です。 そのような考慮事項は初期設計活動の一部でなければならず、テスト戦略はすべての回路およびシステム設計者の教育の一部である必要があります。 本書は、IC テストのあらゆる側面についての包括的な入門書および参考資料です。 これには、実践的なテスト戦略や業界の実践@からテストの経済的および管理的側面に至るまで、上級の学生@に必要な基本的な概念と理論がすべて含まれています。 デジタル ネットワーク テスト @ VLSI テストの詳細な範囲に加えて、VLSI テストでは、特に信号処理で使用されるアナログおよびアナログ/デジタル混合 IC@ のテストの成長領域も詳しく検討します。 著者 スタンリー・L・ハースト