IEEE Unapproved Draft Std P1505.1/D9, May 2008
IEEE Std 1505 を使用した高密度、単層電子テスト要件のための共通テスト インターフェイスのピン配置構成に関する IEEE ドラフト標準

規格番号

IEEE Unapproved Draft Std P1505.1/D9, May 2008

制定年

2023

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

範囲

この試用標準である IEEE 1505.1「IEEE Std 1505 を利用した高密度、単層エレクトロニクス テスト要件のための共通テスト インターフェイス ピン マップ構成」は、IEEE-1505 受信機フィクスチャ インターフェイス (RFI) 標準仕様の拡張を表しています。 IEEE-1505 RFI 標準内で、以下のようなより具体的な一連のパフォーマンス要件を定義することに重点が置かれています。