IPC TM-650 2.2.5A-1997
微細切片による寸法検査

規格番号

IPC TM-650 2.2.5A-1997

制定年

1997

出版団体

IPC - Association Connecting Electronics Industries

範囲

この検査方法は、プリント基板の微細断面の寸法検査を行う手順を説明したものです。 この方法は、1.25 μm (0.00005 インチ) 未満の測定値には適用されません。 このメソッドは、IPC-TM-650@ メソッド 2.2.9 および 2.2.11 に取って代わることを目的としています。