IEEE P1505.1/D6-2019
IEEE Std 1505 を使用した高密度単層電子テスト要件の共通テスト インターフェイス ピン配置構成標準

規格番号

IEEE P1505.1/D6-2019

制定年

2019

出版団体

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

範囲

この規格の範囲は、IEEE 1505 を利用した物理ピン マップの定義です。 受信装置インターフェース (RFI)。 この規格内で定義されたピン マップは、軍用および航空宇宙用自動試験装置 (ATE) の試験アプリケーションに適用されます。 目的 関連するコネクタ構成および接触性能特性。