IPC TM-650 2.2.13.1A-1983
厚さホール内電気めっきマイクロオーム法

規格番号

IPC TM-650 2.2.13.1A-1983

制定年

1983

出版団体

IPC - Association Connecting Electronics Industries

範囲

プリント配線板のメッキスルー接続の品質を判定するための非破壊検査方法 1.2 理論 銅は、シェルの形状と銅の導電率に応じて既知の値の抵抗率を示します。 シェルが均一でない場合@銅にクラック@ボイド@または薄いスポットなどの欠陥があると、測定された抵抗値は理論値よりも高くなります。 この値は図1に示す式を使用して計算されます。