KS C 6049-1980(2020)
半導体集積回路の環境試験方法および耐久性試験方法

規格番号

KS C 6049-1980(2020)

制定年

1980

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

最新版

KS C 6049-1980(2020)

KS C 6049-1980(2020) 発売履歴

• 2020 KS C 6049-2020 半導体集積回路の環境試験方法と耐久試験方法
• 1980 KS C 6049-1980 半導体集積回路の試験方法と耐久性能試験方法