KS C 6111-5-2008(2018)
マイクロ波周波数での超電導体膜の厚さの測定

規格番号
KS C 6111-5-2008(2018)
制定年
2008
出版団体
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
状態
 2023-01
に置き換えられる
KS C 6111-5-2023
最新版
KS C 6111-5-2023

KS C 6111-5-2008(2018) 発売履歴

  • 2023 KS C 6111-5-2023 マイクロ波周波数での超電導体膜の厚さの測定
  • 0000 KS C 6111-5-2008(2018)
  • 2008 KS C 6111-5-2008 マイクロ波を利用した高温超電導膜の膜厚測定



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