KS L 1620-2013(2018)
ヴァンダーバーグ法による導電性セラミック薄膜の抵抗率測定試験方法

規格番号

KS L 1620-2013(2018)

制定年

2013

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる 2023-01

に置き換えられる

KS L 1620-2023

最新版

KS L 1620-2023

KS L 1620-2013(2018) 発売履歴

• 2023 KS L 1620-2023 Van der Pauw法による導電性セラミック薄膜の抵抗率測定試験方法
• 0000 KS L 1620-2013(2018)
• 2013 KS L 1620-2013 導電性セラミックスの皮膜抵抗の求め方 ヴァンダービルト法
• 2003 KS L 1620-2003 導電性セラミックスの皮膜抵抗の求め方 ヴァンダービルト法