IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008
IEEE Std 1505 を利用した高密度、単層電子テスト要件向けのユニバーサル テスト インターフェイス ピン マッピング構成の IEEE ドラフト試用標準

規格番号

IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008

制定年

2023

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

範囲

この文書「IEEE 1505.1 共通テスト インターフェイス ピン マップ構成（IEEE 標準 1505 を利用した高密度、単層電子テスト要件向け）」は、IEEE-1505 受信機フィクスチャ インターフェイス（RFI）標準仕様の拡張版です。 IEEE-1505 RFI 標準では、より具体的な一連のパフォーマンス要件が採用されています。