IEEE P1838_D3.00, September 2019
IEEE が承認した三次元積層集積回路のテスト アクセス アーキテクチャの標準草案

規格番号
IEEE P1838_D3.00, September 2019
制定年
2019
出版団体
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
範囲
IEEE Std 1838 はダイ中心の規格です。 マルチ ダイ スタックの一部となることを目的としたダイに適用されます。 この規格は、準拠したダイがスタックにまとめられたときにスタックを構成するダイ レベルの機能を定義します。 - (1) ダイ内回路と (2) ダイ間相互接続のテストのための制御およびデータ信号の転送を可能にするレベルのアーキテクチャ。 (a) プリスタッキング ...



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