IEEE P1149.1/D2012.e27, September 2012
IEEE ドラフト標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ

規格番号

IEEE P1149.1/D2012.e27, September 2012

制定年

2012

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

範囲

組み立てられたプリント基板のテスト、メンテナンス、サポートを支援するために集積回路に組み込まれる回路が定義されます。 この回路には、命令とテスト データが通信される標準インターフェイスが含まれます。 一連のテスト機能が定義されます。 バウンダリ スキャン レジスタ。 コンポーネントが最小限の命令セットに応答できるようにします。