SP5.2.2-2012
静電気放電感度テスター モデル (MM) 代替テスト方法: 信号ピン コンポーネント レベルの分割

規格番号

SP5.2.2-2012

制定年

2012

出版団体

ESD - ESD ASSOCIATION

範囲

多数の信号ピンを備えたピン数の多いコンポーネント (ボール グリッド アレイなど) の場合、信号ピンを 2 つ以上の等しいセットまたはサブグループに分割することでピンの総数を減らすことができます。 特殊なテスト フィクスチャ ボード (TFB) を構築して、信号ピンの各セットを特定のテスター チャネルに接続し、残りの未使用の信号ピンをフローティングにすることができます。 追加の TFB を構築して、残りの信号ピンの各セットを特定のテスター チャネルに接続し、残りの未使用の信号ピンをフローティングにすることができます。 コンポーネントのすべての power@ グランドおよび制御ピンは、各 TFB に配線する必要があります。 注: ANSI/ESD SP5.2.2 では、ピン数の多いデバイスの電源ピンのテストはカバーされていません。 ANSI/ESD SP5.2.1 を使用することをお勧めします。 目的 この標準プラクティスは、コンポーネントまたはデバイスのピン数が ESD シミュレータ テスター チャネルを超えた場合に、マシン モデル (MM) コンポーネント レベルの静電放電 (ESD) テストを実行するための代替テスト方法を確立します。 この代替テスト方法は、512 個を超えるピンまたはボールを備えたコンポーネントに限定されます。 ピン数の多い ESD シミュレータのテスター寄生特性の多くは、ピン数の少ない ESD シミュレータ@ を使用して再現できないため、テスト結果は似たものになります @ が、同一ではありません。 この文書では、ANSI/ESD STM5.2 (MM) テスト方法を参照しています。 コンポーネントのテストで矛盾がある場合、ANSI/ESD STM5.2 ?C マシン モデルはこの標準プラクティス (ANSI/ESD SP5.2.2) をオーバーライドします。 512 ピンを超える ESD シミュレータが利用できない場合は、この標準的な方法を、ピン数の少ない ESD シミュレータを使用して 512 を超えるピンまたはボールを備えた ESD ストレス コンポーネントのガイドとして使用できます。