IEEE P1149.1/D2012.e29, November 2012
IEEE 承認のドラフト標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ

規格番号

IEEE P1149.1/D2012.e29, November 2012

制定年

2013

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

範囲

組み立てられたプリント基板のテスト、メンテナンス、サポート、および内部回路のテストを支援するために集積回路に組み込まれる回路が定義されています。 回路には、命令とテストデータが通信される標準インターフェイスが含まれています。 コンポーネントが応答できるように、バウンダリ スキャン レジスタを含む一連のテスト機能が定義されています。