KS C IEC 60749-16-2006(2021)
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 16: 粒子衝撃ノイズ検出 (PIND)

規格番号

KS C IEC 60749-16-2006(2021)

制定年

2006

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

最新版

KS C IEC 60749-16-2006(2021)

KS C IEC 60749-16-2006(2021) 発売履歴

• 2021 KS C IEC 60749-16-2021 半導体デバイス－機械的および気候的試験方法－第16部：粒子衝撃ノイズ検出(PIND)
• 0000 KS C IEC 60749-16-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-16:2006 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 16: 粒子衝撃ノイズ検出 (PIND)