17/30366375 DC
BS IEC 62373-1 半導体デバイス金属酸化物半導体電界効果トランジスタ (MOSFET) のバイアス温度安定性テスト パート 1. 迅速 BTI テスト方法

規格番号

17/30366375 DC

制定年

2017

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

17/30366375 DC

17/30366375 DC 発売履歴

• 0000 17/30366375 DC