IEC 60749-15:2020
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 15: スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性
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IEC 60749-15:2020
規格番号
IEC 60749-15:2020
制定年
2020
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
最新版
IEC 60749-15:2020
IEC 60749-15:2020 発売履歴
0000
IEC 60749-15:2020 RLV
2010
IEC 60749-15:2010
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 15: はんだ付け温度に対するスルーホール実装機器の耐性
2003
IEC 60749-15:2003
気候変動と半導体の手法 第 15 部: トラバーザントの気候変動に伴う排気ガスの温度 (第 1.0 版; IEC/PAS 62174: 2000 を置き換える; IEC 60749-14:2003@ IEC 60749-3 と併用)
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