TSB-176-2009
電波伝播「パスロス」の測定と検証

規格番号

TSB-176-2009

制定年

2009

出版団体

TIA - Telecommunications Industry Association

範囲

IEC 60793 のこの部分では、光ファイバの開口数を測定するための統一要件を確立しています@。 これにより、商業目的のファイバやケーブルの検査に役立ちます。 カテゴリ A1 グレーデッド インデックス マルチモード ファイバの開口数 (NA) は、光ファイバの開口数を説明する重要なパラメータです。 繊維??光を集める能力。 これは、スプライスでの接合損失による起動効率、およびマイクロ/マクロベンディング性能を予測するために使用されます。