IEEE PC37.26/D3, June 2014
低電圧 (1000 V AC 以下) インダクタ試験回路の力率測定方法に関する IEEE ガイド

規格番号

IEEE PC37.26/D3, June 2014

制定年

2014

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

範囲

誘導低電圧 (1000 V AC 以下) テスト回路の力率の値を決定する方法が提供されており、これらの方法は、高電力の実験室での短絡電流テスト中に力率を決定する際に使用されます。 短絡電流試験中にこれらの方法を使用することを推奨します。 あるいは、他の方法 (コンピュータ化されたまたはデジタルの使用を含む) を使用することもできます。