KS D ISO 22493-2012(2017)
マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡用語集

規格番号

KS D ISO 22493-2012(2017)

制定年

2012

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

KS D ISO 22493:2022

最新版

KS D ISO 22493:2022

KS D ISO 22493-2012(2017) 発売履歴

• 2022 KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
• 0000 KS D ISO 22493-2012(2017)
• 2012 KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語