IPC TM-650 1.9A-2003
可変データの測定精度推定値

規格番号

IPC TM-650 1.9A-2003

制定年

2003

出版団体

IPC - Association Connecting Electronics Industries

範囲

一見同一の条件下で、おそらく同一のサンプルに対して実行されたテストでは、常に同一の結果が得られるとは限りません。 これは、あらゆる測定に固有の誤差が部分的に原因です。 新しい試験手順の開発中または既存の試験手順の使用中、この変動性を理解し、それが必要な制限内に確実に制御されるように予防措置を講じる必要があります。 このテスト方法を実行すると、測定誤差を推定し、考えられる原因をトラブルシューティングするのに役立ちます。 新しいテスト手順がレビュー@に提出される際の使用に適していること、または既存のテスト手順が該当するパラメータを測定できることの証拠を提供できます。 この方法は、平均法と範囲法を使用してテスト方法の精度を決定するための、シンプル@使いやすい@標準手順を提供します。 連続データを生成する測定を伴うテストで使用できます。 この手順で示されている計算は合理化されたバージョンです。 最大 10 人の試験機関@オペレーターまたは試験条件によって、最大 10 個のサンプルのそれぞれについて最大 5 回の繰り返し読み取りが行われる状況に役立ちます。 この手順は、合格/不合格や合否結果@などのバイナリ データ@が得られる測定、または 5 回を超える繰り返し測定や 10 を超える検査室や条件が使用される測定には役に立ちません。 これらの状況は他の方法でカバーされます。 (6.3 を参照) この手順は、合否結果や合否結果などのバイナリ データ @ が得られる測定や、5 回を超える繰り返し測定や 10 を超える検査室や条件が使用される測定には役に立ちません。 これらの状況は他の方法でカバーされます。 (6.3 を参照)