KS L 1619-2013(2023)
4点プローブアレイを使用した導電性セラミック薄膜の抵抗率の検査方法

規格番号

KS L 1619-2013(2023)

制定年

2013

出版団体

KR-KS

最新版

KS L 1619-2013(2023)

KS L 1619-2013(2023) 発売履歴

• 2023 KS L 1619-2023 四探針アレイを用いた導電性ファインセラミック薄膜の抵抗率試験方法
• 0000 KS L 1619-2013(2018)
• 2013 KS L 1619-2013 導電性セラミックス薄膜の抵抗率の測定方法 4探針法
• 2003 KS L 1619-2003 導電性セラミックス薄膜の抵抗率の測定方法 4探針法